2023 年に第 1 回 King's Award for Innovation を SiC および GaN テスターが受賞 ...

ipTEST は、ハイパワー SiC および GaN 半導体で利用可能なテスト機能に対して、1966 年に初めて授与されたクイーンズ賞に当然続くキングス賞エンタープライズ賞のイノベーション部門で受賞しました。 最も正確な結果を得るには、デバイスはできるだけその動作速度に近い速度でテストする必要があります。 ただし、これは、通常、従来のシリコンよりもはるかに高速でスイッチングされる SiC と GaN にとっては課題です。

この問題を解決するために、ipTEST は DS5 テスト ジェネレーターを開発しました。 DS5 のレイアウトは、最高速度で動作し、最速の動的テストを実行できるようにゼロから設計されました。

その結果、DS5 は SiC および GaN デバイスのパフォーマンスを高速で最も明確に把握できるようになり、メーカーは製品の品​​質を最大限に高めることができます。 これは、パワーデバイスがドライブトレインの中心となる電気自動車の用途では特に重要です。

「DS5 はお客様から非常に好評で、King's Award のイノベーション部門で認められたことをとても誇りに思います。」 ギルフォードに拠点を置く ipTEST のマネージング ディレクターであるコナー マッカーシー博士は次のように述べています。 「これは社内全員による真のチームの努力によるものです。」

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